能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
X荧光光谱仪对玻璃行业的进厂原料、玻璃成品的元素组成成份具有很好的分析效果。这里以WDX系列X荧光光谱仪对玻璃行业进厂原料(石灰石、白云石)及玻璃成品的重复性测试为例,介绍玻璃行业的应用解决方案。
(一)石灰石的重复性测试
实验条件:
阳材料:Rh;管压:45kV;管流:3.5mA;定量分析方法:经验系数法
应用领域
X 荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X 荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na 以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器〔RoHS 检测)、珠宝饰、贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71—3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S 、Pb 等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具,在大专院校和科研单位也是常备仪器。
应用领域
X荧光光谱仪有着广泛的应用领域,如建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验等。
应用领域
X荧光光谱仪可以广泛的应用到建材(水泥、玻璃、陶瓷等) 、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验、环境保护 等领域。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃、钢铁、有色金属检测、水泥检测、矿料分析。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃行业、电子电器行业、电镀行业、各种材质、塑胶、木头等等物质中的元素检测,电镀行业检测
X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理:涂料表层经X射线激发,发射出特征X射线,特征X射线的能量对应于各特定元素,涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长,可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法:涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检,但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定:
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试,如Cd元素为100ppm,可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些超出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品超过130ppm以上铅含量时,就不必要做化学分析,可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关,所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测
随着全球能源的日益枯竭,资源回收与资源再利用已迫在眉睫。X荧光分析仪可对各种可回收材料(如钢铁、有色金属等合金)进行准确的定量分析。同时也可对各种材料进行品位和牌号的快速和准确的分析。
根据多年的RoHS检测技术和经验,以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成
性能特点
可自动切换准直器和滤光片
RoHS检测
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能RoHS软件,开发,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
技术指标
测量元素:从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限达 1ppm
测量时间:60-300s
能量分辨率:165±5eV
管压:5-50 kV
管流:50-1000μA
温度范围:15-30℃
电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
重量:60kg
自动选择滤光片
多种准直器自动自由切换
电制冷硅针半导体检测器
加强金属元素感度分析器
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
一次可同时分析 24 个元素
标准配置
信噪比增强器
自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品
特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品
测量 RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用
电制冷硅针半导体检测器,摒弃液氮制冷
特别开发测量软件,操作界面十分友好
内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品
的平台,更方便地调节样品位置
高贵时尚的外型,带给您全新的视觉冲击
样品腔尺寸:605mm×395mm×100mm
应用领域
电子电器行业,电镀行业、各种材质,塑胶,木头,玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
调查显示,像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在,目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到:除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外,部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心,一台检测仪器动辄都是四五十万,甚至上百万的昂贵设备望而却步,如果再加上维护成本和使用成本,这些企业更是不堪重负。
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
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